參考價(jià)格
面議型號(hào)
略品牌
產(chǎn)地
上海樣本
暫無探測(cè)器:
背散射電子探測(cè)器加速電壓:
5 Kv - 15 Kv 連續(xù)可調(diào)電子槍:
.電子光學(xué)放大:
80 - 150,000 X光學(xué)放大:
20 - 135 X分辨率:
優(yōu)于 8 nm看了飛納桌面式電子顯微鏡的用戶又看了
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飛納桌面式電子顯微鏡飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 是*的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
研究樣品時(shí),得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計(jì)的能譜探測(cè)器,飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
能譜儀是一種基于樣品被電子束激發(fā)而產(chǎn)生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是完全集成設(shè)計(jì)在飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 系統(tǒng)中。
飛納桌面式電子顯微鏡Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)分析,檢測(cè)樣品的元素組分。此外,該軟件還可以擴(kuò)展到元素分析線面掃(mapping)功能。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導(dǎo)出分析數(shù)據(jù)。
Phenom ProX 桌面式電子顯微鏡 主要技術(shù)參數(shù)
光學(xué)放大 | 20 - 135 X |
電子放大 | 80 - 150,000 X |
分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
數(shù)字放大 | Max 12 X |
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī) | 彩色 |
加速電壓 | 5 Kv - 15 Kv 連續(xù)可調(diào) |
真空模式 | 標(biāo)準(zhǔn)模式 降低荷電效應(yīng)模式 |
探測(cè)器 | 背散射電子探測(cè)器 |
樣品尺寸 | zui大直徑 32 mm |
樣品高度 | zui高 100 mm |
暫無數(shù)據(jù)!
徐江和曹闖雙雙倒下,高啟強(qiáng)全身而退對(duì)嫌疑人進(jìn)行抓捕或定罪,最重要的是要有足夠的證據(jù)并能夠形成完整的證據(jù)鏈。根據(jù)劇情,現(xiàn)場(chǎng)除徐江和曹闖外,沒有提取到第三方指紋。為了驗(yàn)證現(xiàn)場(chǎng)是否為“曹闖與徐江火拼,雙雙中
靜電紡絲技術(shù)是目前為止獲取納米纖維最簡(jiǎn)單有效的方法之一。它具有比表面積大、孔隙率高等特點(diǎn),因而可廣泛應(yīng)用于高效過濾材料、生物材料、高精密儀器、防護(hù)材料、納米復(fù)合材料等領(lǐng)域。利用掃描電鏡可以即時(shí)對(duì)紡絲品
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