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MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內，就可以“動態”測量出晶圓圖。
該儀器本身不使用機械運動部件，因此在連續操作下也非常可靠。它為每個晶圓片提供完整的拓撲結構，這為提高生產線的成本效益和效率提供了新的途徑，而這些都是迄今為止無可比擬的。例如，在不到3個小時的時間內，對10000個晶圓片的拓撲結構進行自動統計評估，結果可以顯示出晶體生長爐的性能和材料質量的各種細節。
實時的質量檢測可以幫助提高和優化諸如擴散和鈍化等處理步驟。在運行的生產過程中，MDPinline可以立即檢測到某個處理步驟的任何故障，從而使產品達到**的性能。
Si3N4 and SiC segregates in multi-crystalline silicon Microcrystalline inclusions Investigation of passivation quality... Cz-Si with bulk defects， separation...
在不到一秒的時間內，可對一個晶圓片進行全電特性測試。測量參數：載流子壽命(拓撲圖)、電阻率(雙線掃描)。
在非常短的時間內獲得數以千計的晶圓片的統計信息可有效地幫助晶圓廠控制過程和生產。
適用于測量晶圓片的材料質量，以及識別晶圓片層面的結晶問題，例如在光伏行業。
適用于擴散過程的完整性控制、鈍化效率和均勻性控制。
Multicrystalline silicon wafers
允許單片控制
參數自動設置，預定義的排序菜單
多達15個質量等級的晶圓片自動分揀
監控材料質量、工藝的完整性和穩定性
快速提升工藝和生產線
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