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NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)
針對大樣品設計的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
快速獲取測量數據,測試過程迅速高效
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來****的檢測能力,實現(xiàn)更快的測量時間,提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標測量儀(CMM)和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像,進行快速豐富的數據采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經驗,NPFLEXTM是**個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統(tǒng),而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效
為客戶量身訂做*合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎上,還有很多備選的配件和配置方案,滿足不同客戶的測量需求:• 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位,測量樣品的側壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復性好。• 獲得研發(fā)大獎的透過透明介質測量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結合環(huán)境測試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對樣品進行加熱或者冷卻,進行原位測量。•可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質感興趣,但是要獲得這些品性質,需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航 天,汽車,醫(yī)療植入產業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征,獲得的只是一條線測量數據。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個測量點可以實現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數據不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結果,更多的測量數據來幫助分析樣品性質。 快速獲取數據,保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統(tǒng),能夠靈活高效的獲取大量測試數據。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設置時間,操作者可以快速更換樣品,而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下,對樣品的不同表面進行測量。僅需要不到15秒的時間,就可以出色地完成一個測量點的數據采集和分析工作。自動對焦,光強調節(jié)以及其他配套軟件功能,大大節(jié)約了測試分析時間,而且可以根據操作者的實驗需求,量身定做**化的實驗方案,而不影響數據的精度和質量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準確地獲得大型零部件的高精度測量結果,提供一站式的測量解決方案。 布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻,觀看**的AFM產品和相關技術進展,以及歷屆網絡研討會和培訓資料,精彩內容持續(xù)更新中! 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室北京市海淀區(qū)中關村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室電話:010-68474806 -630 傳真:010-88417855上海辦公室上海市徐匯區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)桂平路 418號新園科技廣場 19樓E-mail:Sales.asia@br*************產品咨詢熱線:400-89****** \SOM
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