看了布魯克臺階儀-表面輪廓儀的用戶又看了
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德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新,更加鞏固了其行業地位。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。
臺階儀Dektak XT能實現:· 無可匹敵的性能,臺階高度重現性低于4埃
· Single-arch設計提供具突破性的掃描穩定性
· 先進的“智能電子器件”設立了新低噪音基準
· 新硬件配置使數據采集時間縮短40%
· 64-bit,Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度提高了10倍
· 頻率,操作簡易
· 直觀的Vision64用戶界面,操作簡易
· 針尖自動校準系統
· 布魯克(Bruker)以實惠的配置實現高的性能
· 單傳感器設計,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍
40多年不斷創新
建立在40多年的探針輪廓技術創新的知識和經驗之上薄膜測試儀,在基于微處理器的輪廓儀,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是首部single-arch設計的探針輪廓儀,首部內置真彩高清光學攝像機,及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
有超過一萬臺設備,品牌Dektak以質量、可靠性及高性價比著稱。當需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時,人們就會借助Dektak。引進DektakXT,Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量
提高數據采集和分析速度
利用直接驅動掃描平臺,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時的)的掃描速度。在保證行業的質量和重現性前提下,DektakXT可以將數據采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內有效的直觀用戶界面,簡化了實驗操作設置,自動完成多掃描模式,讓重復和常規的實驗操作變得更快速簡潔。
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