看了Leica DM8000 M半導體顯微鏡的用戶又看了
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制造廠商: 德國 Leica
除傳統的光學檢測外,還包括宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光
徠卡 DM8000 M 提供了全新的光學設計,如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力,同時也增加了觀察 8" /200 毫米直徑大樣品 時的產量。
該機照明 基于**的 LED 科技 ,一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。
只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。
視野擴大四倍以上
宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。
極限分辨率
全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念,確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。
人機工程學設計
非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者
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