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Filmetrics F3 薄膜厚度測量儀
經濟適用的反射率測試系統
F3系統是專門為采集反射率光譜曲線設計的,并且可選配至厚度和指數測試功能,基本通用型擁有40000個小時適用壽命的光源及自動波長校準,大大提高了測試準確度。
快速厚度測試
升級厚度測試軟件許可后,厚度值將在測試數據結果中直觀的顯示。軟件中存入了常用的介質材料及半導體層的光學常數。
指數測試功能(n 和 k)
對于更高級用戶來說, 指數測試軟件升級能在短時間內提供折射率和消光系數。
Filmetrics的優勢
桌面型薄膜厚度測量的全球***
24小時電話,Email,在線支持
直觀的分析軟件
附加特性
嵌入式在線診斷方式
免費離線分析軟件
精細的歷史數據功能,幫助用戶有效的存儲,重現與繪制測試結果
免費現場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網絡上在線看到現場演示!我們,我們的應用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易
相關應用
半導體制造 光刻膠 氧化物 氮化物 光學鍍層 硬涂層 抗反射層 濾光器
液晶顯示器 盒厚 聚酰亞胺 ITO 生物醫學 聚對二甲苯 生物膜 消化纖維
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