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高溫電阻測試儀 CRA-3
技術特點
·適用于研究開發各種材料和薄膜材料電阻系數
·高級應用程序控溫技術，包括溫差和測量步進等高級要求。
·自由升/降溫、精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數據測量
·自動壓力安全保護設計，確保測試過程中不會發生爆炸
·試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構，保證測量的高重現性
·可選原片狀樣品測量系統
·可選高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差
全球甄選一流供貨商，保證系統品質達到**！
CRA系統硬件組成：
美國吉時利 Keithley（數據采集系統）
德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統）
英國摩根Morgan（高溫特種材料）
美國通用電氣GE（光波加熱元件）
瑞典康泰爾 Kanthal （加熱元件）
美國精量電子 MEAS（傳感器）
日本IKO （精密軸承）
日本住友Sumitomo （低溫制冷機系統）
測試性結構圖
圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間，同時整個測量系統設置于一個加熱爐內。加熱爐加熱樣品到預定的溫度，在此溫度下，直流電四端法測量電阻，樣品兩端通入恒定電流，測量樣品的電壓變化，可以計算出電阻系數。
CRT技術參數
型號 | CRA-31 | CRA-32 |
測量范圍 | 0.1 mohm-1 Kohm 0.1 mohm-10 Mohm （高電阻模塊） | 0.1 mohm-10 Mohm 1 uohm-100 Mohm （高電阻模塊） |
精度 | 5% | 2% |
測量方法 | 四端法 | |
分辨率 | 10 nOhm | |
溫度范圍 | -100°C up to 500°C ； RT up to 800°C / 1150°C | |
控溫速率 | 0.01 – 100 K/min | |
控溫精度 | +/-0.5K | |
電流 | 0 to 160 mA | |
氣氛 | 減壓He、氧化、還原、真空 | |
樣品尺寸 | 直徑或正方形：2 to 4 mm；長度：6 to 22 mm | |
圓片樣品 | ? 10-12.7-25.4 mm | |
主機尺寸 | 106×54×1450px | |
功率 | 4800W（800℃）；6000W（1150℃） | |
電源 | 220V 50Hz（單相） | |
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