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Nikon CFI Plan Fluor物鏡

1）提供高對比度熒光觀察方法

2）是多顯微技術(shù)的理想選擇

3）透射率高，從UV到IR

Nikon CFI Plan Fluor物鏡從紫外到紅外的透射率高，整個視野都有的平滑度。Nikon CFI Plan Fluor是亮視野、熒光、偏振或DIC顯微鏡等各種顯微技術(shù)理想的多功能物鏡。這些顯微物鏡適合高對比度的熒光觀察或顯微照相等應(yīng)用。

Nikon CFI Super Fluor物鏡

1）UV透射率

2）高數(shù)值孔徑設(shè)計

3）采用低自體熒光材料

Nikon CFI Super Fluor物鏡可為低于340nm的紫外應(yīng)用提供優(yōu)異的透射率，包括用于熒光染料indo-1、fura-2和fluo-3或籠式化合物的光誘導(dǎo)激活。Nikon CFI Super Fluor物鏡采用低自體熒光材料設(shè)計，配備高數(shù)值孔徑，可保證清晰、明亮的熒光圖像。這些顯微物鏡已針對短波進(jìn)行了優(yōu)化以改善信噪比

Nikon CFI60遠(yuǎn)場校正亮場鏡頭

1）的顏色再現(xiàn)能力

2）工作距離長，數(shù)值孔徑值NA大

3）High Contrast with Minimal Flare

4）Strain Free

Nikon CFI60無限遠(yuǎn)校正明場物鏡符合的成像要求，是Nikon光學(xué)技術(shù)的之作。由于采用了60mm齊焦距以及較粗的直徑，Nikon CFI60無限遠(yuǎn)校正明場物鏡可提供更高的亮度，以及極限的工作距離和數(shù)值孔徑NA（聚光能力）。這款物鏡旨在校正整個視場上的橫向和軸向色差，從而獲得兼有高對比度和高分辨率的圖像。

Nikon 干涉測量鏡頭

1）適合非接觸光學(xué)壓型

2）可選Michelson 和 Mirau 鏡頭

3）200mm鏡筒遠(yuǎn)場校正設(shè)計

干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內(nèi)置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結(jié)合，就產(chǎn)生了干涉圖案。與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒(#58-520)的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機(jī)上。