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SOC-200 是一款高精度科研級BRDF測量系統(tǒng)，可以從可見到中紅外波譜范圍內(nèi)全自動測量樣品的BRDF，實現(xiàn)光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數(shù)（BRDF）制圖。BRDF數(shù)據(jù)可以提供研究材料光學(xué)性能所必須的方向反射信息，如表面能量散射的方向和強度。
主要特點：
n 光譜范圍：0.35~14μm（基于檢測器選項）
n 測量本底噪聲：<10-3sr-1
n 可水平裝置粉末和液體樣品進行測量
n 重復(fù)性：＜本底噪聲的5％
n 全自動測量四個角坐標(biāo) （Θ and Φ、入射及反射角）
n 集成電控單元，用于快速處理、顯示和存儲數(shù)據(jù)
n 自動帶通濾光輪，一次性測量十二種多光譜通道。
n 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCT和InSb檢測器，可以無人值守地全自動數(shù)據(jù)采集，自動切換標(biāo)樣樣品測量
測量指標(biāo)：
n 全半球雙向反射分布函數(shù)（BRDF）
非偏振BRDF
線性偏振BRDF
n 雙向透射分布函數(shù)（BTDF）
應(yīng)用領(lǐng)域：
n 航空工業(yè)
n 國防
n 航天
n 行星探測
n 涂層領(lǐng)域
n 光學(xué)材料質(zhì)量控制
技術(shù)參數(shù)：
項目 | 參數(shù) |
測量項目 | BRDF、BTDF |
光譜范圍 | 0.35~14μm |
角度范圍 | ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360° |
角度精度 | 0.1° |
光譜濾波 | 標(biāo)準(zhǔn)商業(yè)化1英寸薄膜帶通濾光片 |
自動化 | Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔徑，濾光輪和樣品/參照X極 |
光源 | Quartz halogen lamp， and silicon carbide glower |
檢測器 | Si， InGaAs， dual InSb/MCT |
本底噪聲 | <10-3sr-1 |
樣品尺寸 | 直徑1英寸圓片、粉末、液體 |
運行 | PC控制，全自動測量 |
尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
產(chǎn)地：美國
暫無數(shù)據(jù)！
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