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裝置概述
主要研究對象:目前材料、物理和化學研究的熱點之一的二維薄膜材料體系。
主要功能:是用來測量熱電薄膜的熱電性質,包括電導和Seebeck系數。
2組成部分:主要由探針臺和控制系統兩部分組成。其中探針臺包括四探針、變溫臺和光學顯微鏡;控制系統包括控溫系統、電學性質測量設備和數據采集和分析系統。
主要特色:可以同時測定薄膜樣品,例如單層石墨烯,的電導(四探針測量模式)和Seebeck系數;溫度可從4K到400K連續可調;氣氛可控。
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