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¨ 校準工具。為更客觀成現真實表面特征進行精準的校正。
¨ 自動分析技術，以確保高精度，高質量和成本有效性。
¨ 可視化工具和報告輸出工具，使得令人信服及印象深刻的結果溝通成為可能。
我們是一個高度創新的公司，不斷發展新的解決方案，以滿足客戶的需求。
多年來，掃描探針圖像處理軟件SPIP™，已經成為實際意義上的納米級圖像處理的標準。
在超過42個國家的前沿的研究機構和高科技公司將SPIP™圖像處理軟件應用于半導體檢測中，物理，材料科學，化學，生物學，計量學技術，納米技術等很多領域。
SPIP™圖形分析軟件支持包括掃描探針顯微（SPM），干涉顯微鏡，掃描電子顯微鏡（SEM），共聚焦顯微鏡，光學顯微鏡，和三維輪廓儀等各種類型的顯微鏡及他們所生成的數據文件。更與aep Technolongy等從事表面研究儀器開發的知名公司合作，**結合NanoMap三維輪廓儀，白光干涉儀，激光共聚焦顯微鏡，原子力顯微鏡（AFM）等多種微觀表面研究儀器。
無論你是資深的用戶或者是剛剛入門的圖像處理的初學者。使用SPIP™圖像處理軟件，您只需點擊幾下鼠標即可得到您需要的分析結果。
SPIP™圖像處理軟件是一個模塊化的軟件，提供包括一個基礎軟件分析模塊和13個可選的附加模塊。基礎模塊包含必要的基本特征分析，例如文件讀取、數據分析、平面校正等功能。附加模塊則是為針對某些特定功能測試提供，包括歸一化校準、降低噪聲、分析、3D構建。在隨后的彩頁中你會發現各項功能的詳細介紹。從中您可以學到如何提高您工作的效率和質量。
¨ 掃描探針顯微鏡（SPM）
¨ 掃描電子顯微鏡（SEM）
¨ 透射電子顯微鏡（TEM）
¨ 干涉儀
¨ 共焦顯微鏡
¨ 三維輪廓儀
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