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儀器簡介:三維輪廓儀NanoMap-LS
三維輪廓儀NanoMap-LS 擁有超大的掃描范圍,僅需按下一個按鈕即可產生高分辨率的三維和二維圖像 。
三維輪廓儀NanoMap-LS 特點
常規的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術的**結合
自動樣品臺掃描,保證樣品精確而快速的掃描測試。使用高級別光學參考平臺能使長程掃描范圍到 100mm。
在掃描過程中結合彩色光學照相機可對樣品直接觀察 。
軟件設置恒定微力接觸
簡單的2步關鍵操作,友好的軟件操作界面
三維輪廓儀的應用
三維表面形貌/輪廓儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
三維表面輪廓測量和粗糙度測量,即適用于精密拋光的光學表面也可適用于質地粗糙的機加工零件。
薄膜和厚膜的臺階高度測量
劃痕形貌,磨損深度、寬度和體積定量測量
空間分析和表面紋理表征
平面度和曲率測量
二維薄膜應力測量
微電子表面分析和MEMS表征
表面質量和缺陷檢測
電腦 Pentium IV, USB2.0聯接
操作系統 Win XP
系統動力需求 90-240V,350W
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