參考價格
面議型號
光譜 SiC外延體相表相無損缺陷分析品牌
上海英生產地
上海樣本
暫無誤差率:
-分辨率:
-重現性:
-分散方式:
-測量時間:
-測量范圍:
-看了光譜 SiC外延體相表相無損缺陷分析的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
July 04, 2023 – 微波探測空間分辨率低,僅為mm級別,無法獲得載流子壽命精確分布成像。采用全新瞬態吸收光譜成像技術,利用高速相機實現載流子衰減動力學的成像,無需掃描樣品!檢測速度大幅提升
暫無數據!