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BA-100 E系列品牌
產(chǎn)地
美國樣本
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X-Ray熒光測厚儀,通過X射線原理,是目前*方便快捷的鍍層測厚方法,產(chǎn)品無須破壞,約20秒完成測量整個過程。博曼測厚儀,2009年,位于美國芝加哥的團隊,創(chuàng)立了博曼Bowman,在原CMI的基礎(chǔ)上,研發(fā)更名為博曼,更為高端的精密XRF鍍層測厚儀。2012年發(fā)布了全新BA-100系列機型,使用SDD探測器技術(shù)XRF系統(tǒng),是**性價比機型。美國博曼鍍層測厚儀,也叫膜厚儀,源自于CMI牛津團隊,2018年博曼發(fā)布了全球*小光斑7.5um FWHM的多導(dǎo)毛細(xì)管機型,完善了從經(jīng)濟型號到端型號的系列產(chǎn)品線,團隊深耕XRF鍍層測厚儀事業(yè)三十余年,曾經(jīng)創(chuàng)立了測厚儀全球知名的CMI品牌,具有代表性的機型。
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