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激光粒度儀粒度粒形分析儀品牌
Atten2產(chǎn)地
北京樣本
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EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經(jīng)驗,為各種應(yīng)用引入了滿足各種不同應(yīng)用需求的粒徑粒形分析方法。
激光粒度粒形分析儀
測量原理
粒徑分析 (PSA)
EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法(LOT)。這是一種針對旋轉(zhuǎn)的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術(shù)。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描,該激光采用楔形棱鏡,以200Hz的速度旋轉(zhuǎn)。在角速度已知的情況下,每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續(xù)時間來計算。這免除了其它分析技術(shù)所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。
EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復(fù)性。我們激光方法在600個不連續(xù)的時間間隔進行粒徑測量,得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的,而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數(shù)、粘度變化、布朗運動、熱傳導(dǎo)和其它物理現(xiàn)象的影響。
動態(tài)粒形分析 (DSC)
動態(tài)粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數(shù)字圖像并分析大量形狀參數(shù)。動態(tài)顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態(tài)流動過程中,可以連續(xù)捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監(jiān)測。大量圖片被放大、處理和自動分析,確保結(jié)果具有充分的代表性。圖像和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都可以打印或儲存,作為樣品記錄。
激光粒度粒形分析儀
特別特征
模塊化設(shè)計
可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態(tài)的顆粒,液體、粉末、氣溶膠、膏狀、薄膜和乳劑。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業(yè)P4 電腦開發(fā)的ACU,模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實驗室。
暫無數(shù)據(jù)!
CPS-24000納米粒度儀助力鼎龍攻克“卡脖子”材料技術(shù)難題據(jù)長江商報報道,在發(fā)布會現(xiàn)場,我司納米粒度分析儀的用戶鼎龍股份集團旗下子公司武漢柔顯科技股份有限公司、湖北鼎匯微電子材料有限公司、武漢鼎澤
2021-12-15
CPS納米粒度儀在橡膠中炭黑回收中的應(yīng)用研究炭黑是一種無定形碳,其結(jié)構(gòu)類似于無序石墨,是芳烴在高溫下不完全燃燒形成。芳烴分子在高溫下通過碳-氫鍵斷裂而解離,碳原子與芳族自由基可反應(yīng)形成層狀六邊形碳環(huán)結(jié)
2022-01-21
2024年7月9日,由中國粉體網(wǎng)主辦的“2024高端研磨拋光材料技術(shù)大會”在河南鄭州高新假日酒店隆重召開!本次大會聚焦高端研磨拋光材料應(yīng)用及技術(shù)難點,面對行業(yè)的新機遇和新挑戰(zhàn),深入探討了當(dāng)前高端研磨拋