參考價格
150-200萬元型號
Aerosurf1500品牌
日立產(chǎn)地
日本樣本
暫無分辨率:
·重現(xiàn)性:
·儀器原理:
圖像分析分散方式:
·測量時間:
·測量范圍:
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參考報價:
面議 | 型號: | Aerosurf1500 | |
品牌: | 日立 | 產(chǎn)地: | 日本 |
樣本: | 【暫無】 | 信息完整度: | |
典型用戶: | 0 |
背散射電子圖像分辨率: | *** | 二次電子圖象分辨率: | *** |
加速電壓: | 5 kV/15 kV | 放大倍數(shù): | ×15~×60,000(使用數(shù)碼變焦時:×240,000) |
價格區(qū)間: | 150萬-200萬 | 儀器種類: | 鎢燈絲 |
不僅可在真空下,還可在大氣壓下進行SEM觀察,含水樣品也無需前處理即可直接觀察。是目前市面上**一款大氣壓模式下觀測的掃描電鏡,免去了了生物,食品,化妝品等樣品復(fù)雜的前處理過程,同時還能觀察樣品的原始形貌。
產(chǎn)品簡介
* 含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行SEM觀察
* 從低真空到大氣壓(數(shù) Pa~105 Pa),可在大范圍壓力下進行SEM觀察
* 標(biāo)準(zhǔn)搭載ES-Corrector(電子束散射校正)圖像改善功能
* 在真空模式下,除了通常的SEM觀察之外,還可進行EDX分析(選配)
* 主機采用330 mm寬度的小型設(shè)計,實現(xiàn)節(jié)省空間和高便利性
* 無需等待抽真空時間,快速實現(xiàn)從搭載樣品到觀察圖像的全過程
(a).樣品設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓環(huán)境下(105 Pa)
(b).配置樣品的大氣壓倉室與SEM內(nèi)部由隔膜分離,在保持SEM內(nèi)部真空的同時,可對樣品進行電子束照射觀察
(c).而且,可通過附帶的真空泵在負壓下(約103~105 Pa)進行觀察
(a).隔膜可拆卸,還可進行低真空SEM觀察和EDX分析
(b).搭載了日立臺式顯微鏡TM系列中廣為采用的高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器
圖1:大氣壓或負壓觀察時 圖2:低真空觀察時
項目 | 內(nèi)容 |
電子槍 | 預(yù)對中燈絲 |
檢測系統(tǒng) | 高靈敏度4分割半導(dǎo)體背散射電子檢測器 |
加速電壓 | 5 kV/15 kV |
倍率 | ×15~×60,000(使用數(shù)碼變焦時:×240,000) |
觀察壓力 | 大氣壓模式(105 Pa)(裝有隔時) 負壓模式(約103 Pa~105 Pa)(裝有隔膜時) 低真空模式(數(shù)Pa~數(shù)10 Pa)(拆下隔膜時) |
**樣品尺寸 | 直徑55 mm |
大小和重量 | 主機:330(W)×687(D)×565(H)mm, 67.0 kg(手動操作臺) 控制裝置:220(W)×368(D)×235(H)mm, 11.8 kg 隔膜泵:145(W)×256(D)×217(H)mm, 4.5 kg ×2臺 |
樣品提供:旭化成株式會社 乙部先生
* 將浸水的纖維先在40 kPa下緩慢自然蒸發(fā)多余水分,然后在大氣壓下進行了觀察。
* 首先觀察到纖維之間的水分蒸發(fā),然后是纖維內(nèi)部的水分蒸發(fā),并因此纖維本身收縮,*后是整個樣品收縮的情景。
* 根據(jù)此觀察的結(jié)果以及纖維干燥時和含水時的直徑測試結(jié)果,得出含水時膨脹30%,和含水時的纖維膨脹率。
試樣提供:Zepto Co., Ltd.
* 在疏水性優(yōu)異的此樣品中,可看到油滲入纖維內(nèi),水分不會滲入,所以可觀察到水分在纖維上的情景。
* 光學(xué)顯微鏡觀察后,無需干燥處理即可在大氣壓下進行SEM觀察。
* 在大氣壓下觀察干燥的意大利面的表面后,在真空中觀察同一樣品,可觀察到表面有大量裂紋。
* 推測是在真空環(huán)境下,樣品內(nèi)部的水分和空氣蒸發(fā)時將試樣表面破壞,即使是干燥的樣品,如果想觀察本來的形狀,通過大氣壓SEM進行觀察是一種有效的方法。
* 大腸桿菌經(jīng)過培養(yǎng)后,用純水稀釋,涂抹在塑料板上,用甲醇固定后進行了觀察(無染色)。
* 含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行SEM觀察
* 從低真空到大氣壓(數(shù) Pa~105 Pa),可在大范圍壓力下進行SEM觀察
* 標(biāo)準(zhǔn)搭載ES-Corrector(電子束散射校正)圖像改善功能
* 在真空模式下,除了通常的SEM觀察之外,還可進行EDX分析(選配)
* 主機采用330 mm寬度的小型設(shè)計,實現(xiàn)節(jié)省空間和高便利性
* 無需等待抽真空時間,快速實現(xiàn)從搭載樣品到觀察圖像的全過程