本圖片來(lái)自成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司提供的顆粒粒形粒度分析儀,型號(hào)為JX-2000的成都精新顆粒圖像測(cè)試儀,產(chǎn)地為四川成都,屬于品牌,參考價(jià)格為面議,公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的顆粒形貌分析儀、顆粒圖像測(cè)試儀等產(chǎn)品。成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的白金會(huì)員,合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)18年,工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn),獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證,請(qǐng)放心選擇!
誤差率:
≤1%分辨率:
0.1μm重現(xiàn)性:
1%儀器原理:
圖像分析分散方式:
濕法分散測(cè)量時(shí)間:
30min測(cè)量范圍:
0.5-3000μm
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