第四屆長余輝與光激勵發光國際研討會(2018)于2018年4月4日-8日在北京航空航天大學舉行,北京精微高博科學技術有限公司攜BET物理吸附儀亮相。大會現場JW-BK200C是一款研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀,[更多]
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