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NS-90Z 納米粒度及電位分析儀

用途：
NS-90Z 納米粒度及電位分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體，聚合物，生物顆粒等的尺寸和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的開發和生產質控，同時也是油墨，醫藥制劑等行業產品開發及質控的通用測試儀器。

NS-90Z 納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在2018年成功引進和吸收馬爾文帕納科公司（Malvern Panalytical）的納米顆粒表征技術的NS-90納米粒度分析儀開發基礎上，進一步將Zeta電位的功能加入其中推出的新一代產品。NS-90Z同時具有優越的粒徑分析和電位分析功能，滿足廣大納米材料、制劑的開發和生產用戶的顆粒尺寸和表面電位的測試需求。該儀器使用13° 電泳光散射測定zeta電位，13° + 90° 動態光散射技術測量粒子和分子粒度，應用靜態光散射技術測定蛋白質與聚合物的分子量的功能。NS-90Z融合馬爾文帕納科M3-PALS相位分析檢測技術，和全球化供應鏈的優質光電部件，例如標配的進口雪崩式光電二極管（APD）檢測器和He-Ne氣體激光器等，加上精確的內部溫控技術，密閉光纖光路以及先進軟件算法，保障了數據的高重復性、準確性和靈敏度，使得儀器可以分析寬廣的粒徑、濃度及電位范圍的樣品。NS-90Z支持SOP標準操作，以及測量數據智能評估，方便用戶使用。

光學系統設計圖：

工作原理

NS-90Z 納米粒度及電位分析儀在一種緊湊型儀器中集成了三種技術：

動態光散射 13° + 90° 散射角來測量粒子和分子粒度。該技術可測量布朗運動下移動顆粒的擴散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉化為粒度與粒度分布。

液體中的粒子由于周圍的溶劑分子撞擊產生隨機布朗運動。小粒子在液體中運動速度較快，而大顆粒運動相對緩慢。這種運動一直都在進行，所以如果我們取一小段時間間隔拍攝樣品運動“圖像”，我們可以看出粒子移動了多少，并且換算出它有多大。相同時間內，如果位移比較小，粒子位置接近，則樣品中粒子較大；相反地，如果位移較大，粒子位置變化很大，則樣品中粒子較小。這種利用擴散速度與粒徑之間的關系測定粒子的大小的方法即為動態光散射（DLS）技術，也稱為光子相關光譜（PCS）技術。

靜態光散射技術是測量一段時間內散射光的時間平均強度。因這個時間平均光強不能反應信號隨時間的動態變化，故稱為“靜態光散射”。靜態光散射法中，通過檢測不同濃度下樣品的散射光強，并且繪制德拜圖（Debye Plot）計算出平均分子量。

粒子產生的散射光強度正比于重均分子量的平方以及粒子濃度。在此測量方法中，檢測一系列不同濃度下樣品的散射光強（kC/R），將該數值與標準物（如甲苯）產生的散射光強進行比較，即可得到德拜圖。德拜圖中的擬合直線斜率為第二維里系數（2nd Virial Coefficient, A2），擬合直線外延到零濃度的數值為平均分子量的倒數（1/MW）。分子量單位為 Da（Dalton） 或g/mol。   

激光多普勒微量電泳法可用于測量zeta電位。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度和zeta電位直接相關。使用激光相干技術 M3-PALS （相位分析光散射法）檢測其速率。 這樣可以計算電泳遷移率，并由此利用Herry方程計算zeta電位，精確測量多種樣品類型和分散介質，包括高濃度鹽和非水性分散劑。M3-PALS 技術的應用，成功解決了毛細管電滲對測試的影響，并且在一次測試過程中同時得到zeta電位平均值和分布曲線。

分散介質中顆粒、分子或者蛋白質獲得的電荷由其表面電荷、周圍溶液離子濃度及離職類型決定，表面電荷代表了分散體系或者溶液的穩定性。這就意味著，穩定性可以通過改變pH值、離子濃度、離子類型并使用諸如表面活性劑及聚合物電解質等添加劑進行改良。

適用體系：水相或有機相中穩定存在，或做緩慢沉降運動的顆粒。典型體系包括：金屬、有機顆粒、蛋白質、聚電解質、無機氧化物、乳液、漿料、煤黑、油墨及炭黑等等。

儀器特點：

【先進的光學系統設計】

單模式和多模式光纖的結合應用，盡可能減少雜散光，提高信噪比。結合不同的測試模式，大大提高了低電泳遷移率的帶電粒子zeta電位檢測的準確性和可重復性。

M3-PALS技術，有效檢測散射光的相位變化。

能夠有效檢測高鹽濃度環境和有機相中顆粒電泳運動。

分辨不同種類顆粒的電泳遷移，完全消除電滲的影響。

同時提供zeta電位平均值和zeta電位分布。

90°和13°相結合的雙角度測量模式。

經典的90°光散射，符號ISO 13321，配合高靈敏度APD檢測器及混合模式光纖技術，能測量粒徑小于1nm的樣品，如蔗糖。

13°下檢測，能分辨微量穩定存在的大顆粒。

雙角度同時檢測，獲得團聚度參數。

【功能豐富的軟件優化用戶體驗】

 提供標準操作程序（SOP）簡化常規測量；自動調節各種樣品的優良設置；操作簡單，無須準直、校正或保養；智能化，可自動判斷數據報告的質量。

【高性能檢測器】

  使效率高的雪崩式光電二極管（APD）檢測器，靈敏度遠高于光電倍增管（PMT）。成本高但保障優的測試性能。

【研究級數字相關器】

 使用高速數字相關器，4000通道，采樣時間低至25ns。

【穩定的激光光源和光路系統】

 采用高穩定He-Ne 氣體激光器確保數據的重復性，波長633nm，功率 4mW。可在300000:1的動態范圍內自動調節激光衰減器。

【精確的內部控溫系統】

獨立的循環溫控槽可在0℃ – 90℃ 范圍內任意設定，其控制精度達0.1℃，保障高重現性。亦可選裝120℃ 溫控槽。

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軟件功能：

1. 使用先進軟件技術和界面，操作簡單。

2. 全自動設置和測量：只需簡單的培訓即可設置儀器，包括樣品池位置、數據記錄、分析和結果顯示。

3. 支持SOP標準操作程序，確保操作的一致性和數據重復性。

4. 測量數據的完全評估：儀器軟件可根據測試條件自動判斷數據報告的質量。

5. 打印或屏幕顯示報告使用簡單；含報表設計器，只需在指定的位置選擇圖形和輸入參數，就可根據不同的需要定制不同的報告。

6. 樣品數據和結果存儲在測量文件中，方便進行數據的比較。

7. 數據分析：數據以圖形或表格的形式給出，分布算法適合各種樣品包括單分散樣品，寬分布樣品以及多種模式樣品。

技術參數：