儀器原理：
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美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀
典型應用：
綜合穩定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環境保護禪選法礦物富集，食品工業，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；
3）可適用于高導電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質及對樣品污染的干擾；
5）可精確測量無水體系；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；
7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
8）具有自動電位滴定功能；
優于光學方法的技術優勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)不需定標；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um
美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀
優于electroactics方法的技術優勢：
1)無需定標；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導電(highly conducting)體系；
優于微電泳方法的技術優勢：
1)無需稀釋，固合量高達60%；
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可精確測量無水體系；
技術參數：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導率范圍：0~10 s/m
可精確測量無水體系；Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；具有自動電位滴定功能；
納米粒度儀應用于制備機械強度高的無voc聚合物薄膜的軟核-硬殼乳膠顆粒檢測與溶劑型聚合物分散體相比，由水性聚合物分散體澆注的聚合物薄膜通常存在固有的機械強度不足的缺陷。這個缺點可以通過使用包含硬相和軟
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