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面議型號
NanoTR / PicoTR品牌
NETZSCH(耐馳)產地
德國樣本
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型號: | NanoTR / PicoTR |
品牌: | NETZSCH(耐馳) |
產地: | 德國 |
產品別名: | 皮秒級熱反射法薄膜導熱儀PicoTR 脈沖激光熱反射法薄膜導熱儀 |
檢測方法: | 熱反射法 |
產品介紹
熱反射(Thermo-Reflectance)方法基于超高速激光閃射系統,可測量基片上金屬、陶瓷、聚合物薄膜的熱物性參數,如熱擴散系數(Thermal Diffusivity)、熱導率(Thermal Conductivity)、吸熱 系數(Thermal Effusivity)和界面熱阻。
由于激光閃射時間僅為納秒(ns)量級,甚至可達到皮秒(ps)量級,此系統可測量厚度低至10nm的薄膜。同時,系統提供不同的測量模式,以適應于不同的基片情況(透明/不透明)。
該方法符合國際標準:
JIS R 1689:通過脈沖激光熱反射方法測量精細陶瓷薄膜的熱擴散系數;
JIS R 1690:陶瓷薄膜和金屬薄膜界面熱阻的測量方法。
1990 年,日本產業技術綜合研究所/日本國家計量院(AIST/NMIJ)發明熱反射法,測量薄膜導熱性能。
2008 年,AIST 設立 PicoTherm 公司。
2010 年,PicoTherm 公司推出納秒級熱反射系統 NanoTR。
2012 年,PicoTherm 公司推出皮秒級熱反射系統 PicoTR。
2014 年,PicoTherm 公司和 NETZSCH 公司建立戰略合作。NETZSCH 將負責 PicoTherm 產品在全球的銷售和服務。
RF 測量模式 | FF 測量模式 |
主激光源從反面加熱薄膜,檢測激光從正面測量薄膜的溫度升高過程,從而計算薄膜的導熱性能參數。此模式適用于透明基片。 | 主激光源從正面加熱薄膜,檢測激光從正面測量薄膜的溫度下降過程,從而計算薄膜的導熱性能參數。此模式適用于不透明基片。 |
技術參數 | NanoTR | PicoTR |
溫度范圍 | RT,RT … 300°C(選件) | RT,RT … 500°C(選件) |
真空度 | N/A | 10-6 mbar(選件) |
測量模式 | RF/FF | RF/FF |
樣品尺寸 | 10x10 ... 20x20 mm | 10x10 ... 20x20 mm |
薄膜厚度 | RF: 金屬:1 ... 20μm 陶瓷:300nm ... 5μm 聚合物:30nm ... 2μm FF:> 1μm | RF: 金屬:100nm ... 900nm 陶瓷:10nm ... 300nm 聚合物:10nm ... 100nm FF:> 100nm |
基片厚度 | < 1mm | < 1mm |
熱擴散溫升時間 | 10ns ... 10μs | 10ps ... 10ns |
熱擴散系數 | 0.01…1000 mm2/s | 0.01…1000 mm2/s |
測量精度 | 5%(RF), 10%(FF) | 5%(RF), 10%(FF) |
操作系統 | Windows 7 | Windows 7 |
RF 模式下,不同厚度 TaOx_5p(5%氧化物)薄膜的測量曲線。可見即使薄膜厚度低至 10nm,仍然可以得到良好的信噪比。且不同厚度的薄膜得到的面熱擴散時間數據符合線性關系。
不同厚度 TaOx_5p 薄膜樣品的原始溫升信號對比
面熱擴散時間 vs. 樣品厚度關系圖
以下兩圖分別使用 RF 與 FF 模式,對石英基片上的 90nm 厚的 Mo 薄膜進行了測試。兩者的測試結果完全一致,平均值為 16.0 mm2/s。
RF 模式測量結果
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