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關閉冷頭

計算參數：

寬度=0.269 mm/s

w13=1.17

W23=1.08

ISO=0.000毫米/秒

bhf=32.94噸

校準光譜：

金屬箔測量（厚度25 mm）

開啟冷頭

計算參數：

寬度=0.270 mm/s

w13=1.21

W23=1.11

ISO=+0.115毫米/秒

bhf=33.81噸

校準光譜：

金屬箔測量（厚度25 mm）

當系統正確安裝在墻壁和工作臺上并進行適當調整后，壓縮機工作時產生的振動影響非常小（幾乎可以忽略不計）。

加寬（不是擴大！）完全可復制，遠低于2%。這種加寬實際上沒有任何影響，幾乎在所有情況下都可以忽略。但是，比較林寬度的時候需要用同樣計算方式！

Displex系統實際上是無振動的！

Prof. Dr. habil. Michal Kopcewicz，電子材料技術研究所

波蘭華沙

穆斯堡爾譜低溫恒溫器， DMX-20

Prof. Dr. habil. Michal Kopcewicz

穆斯堡爾譜配置

為了* 大限度地隔離振動，系統的正確安裝是非常重要的。ARS提供了一個特殊的超低振動支架用于隔離超低振動恒溫器來自冷頭和地板的振動。

該支架可以通過調節到恰當的高度來支撐冷頭。

低溫恒溫器安裝在低振動平臺上。它由一個高質量的花崗巖塊（用戶提供）組成，由4氣腿支撐（可選ARS產品）。額外的彈性隔震器過濾掉從地板到低溫恒溫器的振動。

系統可通過關閉制冷機來觀察振動對實驗的影響來進行測試。

橢圓偏振計

應用于SOPRA橢圓偏振計的超低振動系統

SEM 設備

上圖展示了Displex和它的界面。照片中所有不銹鋼的部分都是對我們的JSM-5910掃描電鏡的升級。請注意我的網站上發表的論文，其中演示了用這個低溫系統獲得的CL的結果。

樣品溫度介于40 K和50 K之間。

Prof. Dan Rich

以色列比爾舍瓦本古里安大學

上圖為生長在帶圖案的GaN襯底上的InGaN/GaN量子阱. 該圖案由周期為10微米的條紋組成。

采用390 nm檢測波長拍攝的單色CL圖像(Mag. 2000)。

室溫和50K的圖像質量對比表明振動小于10nm。

FTIR 測試

超低振動系統用于FTIR分光儀，帶有3個樣品的樣品座可在Z軸方向進行移動。

超低振動系統用于BOMEM， DA8 FTIR分光儀。

電磁測試

該款低溫恒溫器尾部真空罩緊湊，可使樣品插入到小型磁體孔進行測試。

該款低溫恒溫器尾部真空罩緊湊，可使樣品插入到小型磁體孔進行測試。

磁光測試 (MOKE)

超低振動低溫恒溫器用于MOKE（磁光克爾效應）。

樣品可以根據情況放置在任意平面。極距可低至1英寸。

小直徑真空外殼可以插入狹窄的間隙（高場）。 光學窗口允許從樣品中收集光。 對于短焦距物鏡，窗口可以無限接近樣品。