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美國PolyK Technologies公司基于改進優化的動態Sawyer-Tower電路開發的該系統，廣泛用于測量介電和鐵電材料的電荷密度與電場及頻率的關系；

系統特點：1）整合了系統保護電路：當試樣在高壓測試發生擊穿時，可有效的保護測試系統；

2）配合Trek高壓放大器執行測試時，高壓>10kV，并且頻率可達1000Hz，高級模式可達300kHz；

3）高壓擊穿測試可在AC、DC或者Field endurance life模式下測試，而且只需簡單的切換信號連接即可；

4）自動鐵電性能測試直至介電擊穿發生；

5）對于介電材料充放電測試，軟件能自動給出充電能量密度和放電能量密度，以及充放電效率；

6）對于壽命循環測試（DC模式或者AC模式），系統會自動生成測試總結文件；

7）獨特的夾具設計，確保即使測試軟的高分子介電材料也不會損傷樣品；

8）基于LabView設計的功能強大的軟件系統，用戶可方便地控制電壓、信號波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和頻率；

技術規格：1）內置電壓：±100V or ±200V放大器

2）電壓放大器>10kV to 30kV

3）電荷：<1nc to>1mC(取決于放大器輸出)

4）測試頻率：0.01Hz to 1000Hz， or 10kHz， or 300kHz.

5）壓電應變測量選件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁電傳感器；

6）高壓變溫測試選件：-184℃ to 250℃；

測試功能：1）DHM測量：Dynamic Hysteresis measurement

2）PM測量：PUND measurement

3）SHM測量：Static hysteresis measurement

4）FM測量：Fatigue measurement

5）RM測量：Retention measurement

6）IM測量：Imprint measurement

7）漏電流測量：Leakage Current measurement(可選)

8）熱釋電測量：Pyroelectric measurement（可選）

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