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儀器簡介:
DIC(Digital Image Correlation)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)是一種非接觸式測量材料全場應(yīng)變、位移的光學(xué)測量技術(shù),該技術(shù)幾乎適用于任何材料且測試面積廣、結(jié)果精確。
Dantec DIC Q-400丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款測量材料表面位移與應(yīng)變的標(biāo)準(zhǔn)DIC設(shè)備,該設(shè)備不與被測物體表面發(fā)生接觸,通過追蹤物體表面的散斑圖像,實現(xiàn)變形過程中物體表面三維坐標(biāo)、位移場和應(yīng)變場的測量。該設(shè)備幾乎適用于任何材料且測量范圍廣、測量精度高。
技術(shù)參數(shù):
測量維度:二維、三維
測量區(qū)域:10mm×10mm—5m×5m(該區(qū)間外也可測量,但測量精度會相應(yīng)下降)
測量精度:位移(1μm),應(yīng)變(0.005%)
主要特點:
精度高、測量范圍廣、無接觸、方便使用
暫無數(shù)據(jù)!