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面內導率測量系統（SDTR）品牌
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熱反射面內熱導率測量系統基于“泵浦-探測”原理，采用空間域熱反射法（Spatial Domain Thermal Reflection，縮寫為：SDTR），能夠準確測量從薄膜到塊體材料的完整的面內熱導率張量。系統自動化程度高，操作簡便，特別適合大批量快速測量。
特點與優勢
可測量完整的面內熱導率張量
各向同性材料熱導率測量高性價方案
結構緊湊
可靠性高、免維護
1、電源需求：110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp
2、激光波長：泵浦638 nm，探測785 nm（標配，可根據用戶需求選配）
3、激光功率：泵浦100 mW，探測20 mW（標配，可根據用戶需求選配）
4、調制頻率范圍：標配DC-5MHz，可升級到50MH，200MHz
5、顯微成像：標配，可觀察樣品表面狀況及激光光斑位置
6、測溫范圍：標配室溫，可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同溫區的變溫模塊
7、軟件：全自動數據測量與分析處理、數據導出、報告生成
面內各向異性熱導率張量測量結果
以X切石英晶體為例:
光學交流量熱法不要求激光光斑有嚴格的圓度即能準確測量面內熱導率張量
暫無數據！
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