2012年5月23日，為了給用戶提供一個(gè)了解顆粒特性分析技術(shù)最新動(dòng)態(tài)和交流使用心得的平臺(tái)，貝克曼庫(kù)爾特公司在清華大學(xué)環(huán)境學(xué)院成功舉辦了“顆粒特性 分析技術(shù)講座”，貝克曼庫(kù)爾特分析儀器產(chǎn)品全球市場(chǎng)經(jīng)理THOMAS ED HORTON先生、分析系統(tǒng)市場(chǎng)專家HANDY YOWWANTO先生等公司高層攜相關(guān)技術(shù)專家出席了會(huì)議，為40多位顆粒特性分析工作者作了精彩的講解；中國(guó)粉體網(wǎng)作為特邀媒體應(yīng)邀參加。
會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)
貝克曼庫(kù)爾特顆粒特性分析部技術(shù)應(yīng)用經(jīng)理MATTHEW RHYNER博士
貝克曼庫(kù)爾特微粒表征產(chǎn)品系列概述
MATTHEW RHYNER博士首先介紹說(shuō)：“貝克曼庫(kù)爾特微粒表征產(chǎn)品涉及Z + MultisizerTM系列庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器、LSTM系列激光散射粒度分析系統(tǒng)、DelsaNanoTM納米粒子分析儀、XLA/XLI超速分析離心機(jī)和 SA3100比表面分析儀等，主要為具有粒度、電荷、濃度和孔隙度等特性相關(guān)需求行業(yè)和學(xué)術(shù)界的客戶提供解決方案”。隨后，MATTHEW RHYNER博士就這五類產(chǎn)品的技術(shù)優(yōu)勢(shì)應(yīng)用領(lǐng)域做了系統(tǒng)的闡述。
四大顆粒表征方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和典型應(yīng)用
MATTHEW RHYNER博士分別詳細(xì)介紹了激光衍射法、庫(kù)爾特法、動(dòng)態(tài)光散射法和zeta電位的測(cè)試方法、常見問(wèn)題、技術(shù)優(yōu)勢(shì)和典型應(yīng)用。
(1) 激光衍射法
MATTHEW RHYNER博士講到：“激光衍射法是一種測(cè)量粒度的方法，是世界上最流行的粒度測(cè)量技術(shù)，可以為用戶提供快速和一致的結(jié)果，并且在能想象到的幾乎每個(gè)行業(yè)中都有所應(yīng)用，如藥品乳劑、粉末涂料、咖啡、化妝品、調(diào)味品、污水等行業(yè)領(lǐng)域”。
LS系列激光粒度分析儀
貝克曼庫(kù)爾特LS系列激光粒度分析系統(tǒng)是基于此原理制造的，該儀器的激光器為先進(jìn)的高功率光纖連接固體光源，壽命長(zhǎng);可同時(shí)采用4個(gè)波長(zhǎng) (450nm，600 nm，780 nm及900 nm)及背散射測(cè)量;干法樣品臺(tái)采用最先進(jìn)的“龍卷風(fēng)”系統(tǒng)及設(shè)計(jì)，“快速氣流變換“技術(shù)配置無(wú)須早期設(shè)計(jì)之空氣壓縮機(jī)，模擬龍卷風(fēng)產(chǎn)生機(jī)理，產(chǎn)生高度剪 切力以達(dá)至最佳而非破碎性分散效果。
(2) 庫(kù)爾特法
MATTHEW RHYNER博士講到：“庫(kù)爾特法由庫(kù)爾特先生于1948年發(fā)明，并于1953年10月20日取得專利權(quán)，是一種獨(dú)特的非光學(xué)方法，用于對(duì)稀釋的導(dǎo)電液體 中存在的物質(zhì)進(jìn)行粒度分析，在過(guò)濾效率、干細(xì)胞、蛋白質(zhì)聚集體、體外診斷體液、細(xì)胞水腫動(dòng)力學(xué)、海水等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。”
貝克曼庫(kù)爾特生產(chǎn)的Multisizer 3顆粒計(jì)數(shù)儀正是基于此原理制造的。該儀器適用于分析顆粒、細(xì)胞、微生物等;可分析光學(xué)技術(shù)不能檢測(cè)之濃度極低樣品，如水樣品。細(xì)菌等;具備精確體積測(cè)量 泵，可作定量分析，而且不受顆粒形狀、顏色及光學(xué)特性(折光率與吸光率)的影響，實(shí)時(shí)提供顆粒計(jì)數(shù)與粒度分布，分辨率高。
Multisizer 3庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)儀
(3) 動(dòng)態(tài)光散射法和zeta電位分析法
MATTHEW RHYNER博士講到：“動(dòng)態(tài)光散射是一種用于估計(jì)非常小物體直徑的技術(shù)，可檢測(cè)的最小粒子粒度為0.6nm-7μm，在納米粒子和生物樣品分析方面應(yīng)用廣泛，適合分析球形粒子，難于分析圓柱形粒子。”
“zeta電位是一種用于計(jì)算粒子在溶液中所帶電荷的參數(shù)，是根據(jù)物體的電泳淌度計(jì)算而來(lái)，可以對(duì)樣品進(jìn)行定性比較、測(cè)定等電位點(diǎn)、鑒定涂層的效果或質(zhì)量。”
DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀
與上述表征方法相關(guān)的貝克曼庫(kù)爾特的儀器是DelsaNano系列納米粒度/Zeta電位儀是基于這兩種方法制造的。它的主要特點(diǎn)是：該儀器采用了高靈敏度技術(shù)，可以測(cè)量高濃度樣品和極低濃度樣品的Zeta電位以及納米粒度，不需前處理，濃度動(dòng)態(tài)范圍達(dá)四個(gè)數(shù)量級(jí)。
現(xiàn)場(chǎng)討論
清華大學(xué)環(huán)境學(xué)院高工郭玉鳳女士（右）
另外，講座會(huì)還特設(shè)了顆粒分析技術(shù)問(wèn)答環(huán)節(jié)，參會(huì)者積極討論，增強(qiáng)了儀器用戶與廠商專家的互動(dòng)，取得了良好的效果。
貝克曼庫(kù)爾特高層與參會(huì)用戶合影留念
關(guān)于我們
加入收藏
白金會(huì)員
已認(rèn)證
手機(jī)版：
上一篇
