貝克曼庫爾特商貿(中國)有限公司
已認證
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導讀:在德國POWTECH的全力支持下,第十三屆中國國際粉體加工/散料輸送展覽會(IPB 2015)于2015年10月28日-30日在上海跨國采購會展中心成功舉辦。貝克曼庫爾特商貿(中國)有限公司(以下簡稱:貝克曼庫爾特)攜最新顆粒分析儀器盛裝亮相此次盛會。
自1947年發明了著名的庫爾特原理以來,開發出了一系列領先于同行的先進的專利技術,陸續不斷地為全球用戶奉獻出一款款令人矚目的產品:新一代最高分辨率的顆粒計數及粒度分析儀MS4E、多波長PIDS專利的激光衍射粒度分析儀LS系列、高濃度ZETA電位及納米粒度分析儀與比表面積分析儀等。
1、Multisizer4e庫爾特計數器
質控用Multisizer 4e是庫爾特計數器家族的最新成員,它擁有10μm-2000μm的小孔直徑,只需一次分析就能提供粒徑范圍在0.2μm-1600μm之間顆粒和細胞數量、體積、聚集度及表面粒度分布,并且其分析過程不受顆粒顏色的影響。其數字脈沖處理技術結合了最新技術和軟件優勢,對脈沖數據經數字化處理,對于選定的脈沖范圍可以達到400個粒徑通道,當然,用戶在使用過程中可以通過需要自行設置通道數和范圍。技術成熟,操作方便,高分辨率和動態粒徑測量讓Multisizer 4e的優勢極為突出。
2、LS13320系列全新納微米激光粒度分析儀
LS 13 320系列全自動激光粒度儀是目前用途廣泛、應用成熟的粒度分析儀,它采用顆粒光散射原理,據光學理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析,其最大特點是粒度分析動態范圍寬,分辨能力為同行業中最高;操作簡便快捷,自動化程度高,可廣泛應用于質量控制實驗室、質量控制部門以及其他粒度分析領域。
3.高濃度ZETA電位及納米粒度分析儀DelsaMax™系列
貝克曼庫爾特最新發布新一代的DelsaMax™系列-速度與卓著功能俱備的粒徑與Zeta電位分析儀。無論是分析速度、精確度以至于分析原理,DelsaMax™系列均大幅領先于其他對手。從DelsaMax Pro模型的粒徑分析與Zeta電位分析獨家技術到ASSIST輔助處理系統(選配項),DelsaMax系列分析儀令你的分析探索達到前所未有的深度、廣度和速度。
DelsaMax Pro多角度Zeta電位及納米粒徑分析儀–低至45µL的樣品,快至1秒鐘的分析,DelsaMax PRO同時精確完成粒度及Zeta電位的分析。此外系列產品還有另一個重要組成部分:DelsaMax CORE靜態分子量與納米粒度同步分析儀-頂尖科技帶來的動態光散射測量,精確分析0.4nm至10,000nm粒徑范圍的低至1µL的樣品。
4、SA 3100比表面積及孔徑分析儀
貝克曼庫爾特的SA 3100比表面積及孔徑分析儀主要為表征固體材料表面特性提供完整的解決方案。SA 3100比表面積及孔徑分析儀采用當今被公認為最準確的氣體吸附技術測量固體的比表面積與多孔特性,利用固體表面對氣體分子產生吸附作用的原理,結合BET、LANGMUIR等模擬理論,對多孔材料的比表面積、孔徑分布進行高精度分析。它是目前功能齊全、分析精確高而快捷的氣體吸附分析儀,無論是用于質量控制還是用于研究開發,SA 3100均為明智之選,在行業內頗受追捧。 關于貝克曼庫爾特生命科學事業部 |
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