復納科學儀器(上海)有限公司
已認證
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荷蘭飛納推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像,且低電壓性能優異。
第二代臺式場發射電鏡 Phenom Pharos G2 的分辨率提升至優于 1.8 nm,廣泛用于半導體、生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。
分辨率優于 1.8 nm
具有卓越的成像質量,是目前分辨率最高的臺式掃描電鏡。優于 1.8 nm 的分辨率,可以輕松獲取樣品的更多細節信息。
樣品:金顆粒 放大倍數:50萬倍
加速電壓低至 1kV
新一代場發射系列低電壓性能優異,加速電壓范圍向下調低至 1kV, 無需特殊制樣,無需擔心荷電,可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,更好地觀測絕緣和電子束敏感的樣品,可以最大程度地還原樣品的真實形貌。
5 kV 充電嚴重 1 kV 充電消失
UI 界面全面升級
一切以圖像為中心,用戶界面全面升級,取消傳統的能譜獨立顯示屏,將電鏡、能譜、全景拼圖等操作界面集成在 1 個 24 英寸顯示屏上,為用戶提供最佳的操作體驗。無需切換即可使用實時能譜功能,在成像的同時,快速獲取成分信息。
基本參數
· 燈絲材料:肖特基場發射燈絲
· 分辨率 :優于 1.8nm
· 電子放大:最大 200 萬倍
· 加速電壓:1kV-20kV, 連續可調
· 內置 UPS(不間斷電源)適配器
· 全面升級為新 UI:電鏡、能譜等在同一界面
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