誤差率:
.分辨率:
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其他分散方式:
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通用掃描遷移率粒度儀,適合各種應用(8–1200nm)
? 粒徑分布從8 nm到1.2 μm
? 連續和快速掃描的測量原理
? 高分辨率,多達128個大小類/衰減
? 適用于高達108顆粒數/立方厘米的濃度
? 可以連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器
? 圖形顯示測量值
? 直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI
? 集成數據記錄儀
? 支持多種接口和遠程訪問
? 低維護
? 功能可靠
? 減少您的運營費用
*請聯系Palas?了解更多信息。
圖1:U-SMPS 2050/2100/2200
Palas?通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩個版本。長分類柱(2050/2100型)能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas?U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義為差分電遷移率分類器(DMA),也稱為差分遷移率分析器(DEMC)],根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇并傳遞給出口。
然后通過冷凝顆粒計數器(例如Palas?UF-CPC)對這些顆粒進行計數。三種可用的UF-CPC模型可實現各種濃度范圍內的優異單顆粒計數。 Wiedensohler教授(德國IfT萊比錫)開發了Palas?的算法,用于對測量數據進行反演以產生U-SMPS粒度分布。
U-SMPS使用觸摸屏上的圖形用戶界面進行操作。單個粒子分布掃描可以在短短30秒內執行,或者,每十個通道多達執行64個尺寸通道,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續變化,從而導致每個尺寸通道的計數統計更高。集成的數據記錄器允許在設備上以線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估(廣泛的統計和平均)以及導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)連接到計算機或網絡。 Palas?U-SMPS支持其他制造商的各類DMA、CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能十分重要,對于校準來說尤其如此。所有組件都通過嚴格的質量保證測試,并在內部組裝。
圖2展示U-SMPS的工作原理:
氣溶膠在進入分類器(DEMC列)之前經過調節。可選的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類機尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
圖2:通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理
然后,氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是,在此處應避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有極高的質量。
鞘空氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續在閉環中循環的氣溶膠的體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比定義傳遞函數,從而定義尺寸分類器的分辨率。
通過施加電壓在內和外電極之間產生徑向對稱的電場。內電極在末端具有小縫隙,帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力,帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率,一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中,電壓和電場連續變化。結果,遷移率變化的粒子離開DEMC,并由納米粒子計數器(例如縮合粒子計數器)(例如Palas?UF-CPC)連續進行測量。
在實際條件下,經過測試的軟件為組合數據(電壓、粒子數等)并獲得粒度分布提供特殊的處理功能,如圖3所示。
圖3:Palas?DNP 3000顆粒發生器產生的氣溶膠的粒徑分布
用戶界面和軟件
基于持續的客戶反饋,我們已設計良好的用戶界面和軟件,以實現直觀的操作、實時控制,并可以顯示測量數據和參數。
此外,軟件還通過集成的數據記錄器、完善的導出功能和網絡支持為數據管理提供支持。可以使用許多可用的顯示選項和測量數據評估功能。
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2021-12-09