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一、概述
SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
■ 超高性價比光學橢偏測量解決方案；
■ 緊湊集成化設計，**用戶操作體驗；
■ 一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷；
■ 豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力
二、產品特點
■ 采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；
■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；
■ 數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；
三、參數規格
四、產品應用
廣泛應用于科研/企業中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。
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