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全光譜透射比測量儀的應用
全光譜透射率測量儀（TSM）可以測量非常廣泛的產品，如：玻璃鏡片、汽車絕緣紙、建筑絕緣紙、玻璃、燈罩、濾波器、晶片、LED擴散器等。
全光譜透射比測量儀的優點和特點
•超小型，便攜式。
•校準要求低，維護成本低。
•定制靈活性
•高分辨率可編程設計微控制器
•抗震、防震。
•方便的數據存儲。
•清晰易懂的數據輸出格式。
•穩定的測量數據。
•測量的光譜參數
•特定波長
•可見光平均透過率
•透射率顏色
•CIE
•CCT
•CRI
OHSP-660T光譜透過率測試儀集光譜、透過率、飽和度、L、A、B等測量 功能于一體。采用5英寸大屏，各測量參數及曲線實時顯示，使用方便快捷，可 直接測試材料和鏡片的透過率測試。
| 光譜透過率Transmittance(%) | 總透光率Total Transmittance(%) | 吸光度absorbance | 截止波長Cut-off wavelength（nm） |
| 明暗度Degree of brightnessL* | 紅綠度Red green degree a* | 黃藍度Yellow blue degree b* | 飽和度saturation C*< |
| 色調角Tone H* | 照度Illuminance(lx) | 色溫CCT K | 峰值波長Peak Wave(nm)< |
| 半寬度Half width(nm) | 主波長Dominant wave(nm） | 色純度purity（%） | OHSP350其他基礎參 |
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移動端
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