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TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用，有效地使原子探針和透射電鏡檢測結合在一起，使樣品的觀察和分析更加方便。TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進行觀察，可以360°旋轉樣品，透射電鏡配套的樣品桿往往功能單一，這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要，適合大專院校及科研院所中與透射電鏡配套使用。進口樣品桿往往價格不菲，本公司的樣品桿不僅功能齊全且結實耐用，價格也遠低于進口設備的價格。
產品型號 | TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿 |
主要特點 | 1）TEM-APT樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先進的原子尺度表征手段。 2）三維原子探針的結果不是“可視”的，需要通過數據重構再現。透射電鏡能提供“直接可視”的實驗結果，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的單個原子尺度的成分信息。基于它們各自的優勢，我們開發了3DAP-TEM樣品桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到TEM樣品桿上。 |
產品結構 | |
產品作用 | （1）在TEM中直接觀察APT試樣上是否有令人感興趣的區域，使樣品檢測工作效率增加； （2）通過大角度傾轉試樣，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為3DAP數據重構提供幫助； （3）TEM觀察過后的試樣可以直接移到APT中繼續實驗。將APT結果與TEM圖像相結合，有 助于優化重構參數，并使3DAP結果更具有可信度。 （4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。 |
產品性能 | （1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。 （2）允許360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會因楔子缺失而造成信息損失。 （3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉移到APT機上進行進一步表征。 （4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。 |
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