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薄膜硅涂布量測試儀YL-X300
離型膜硅涂布量測試儀 越聯儀器生產
設備的測試原理：
YL-X300通過軟件程序控制，讓X射線發生路產生適合的X射線去激發測試薄膜材料中的S或者其他元素，被X射線激發后變為不穩定態，高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收，因每個元素都有自已特定的能量特征線，通過探測器的識別，計算機軟件的計算，即可準確識別該元素，并計算出含量。
YL-X300采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到125eV，能分辨A(鋁)元素和Si(硅)元素。
設備優勢及特點：
1、測試采用 射線熒光光譜原理，測試過程無需耗材；
2、光管垂直照射，硅元素性能得到更強激發；
3、測試下限好，可準確測量0.1g/m的涂硅量；’
4、采用大面積硅漂移探測器，測試結果極其準確；
5、快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測量穩定性；
6、配置高清液晶顯示器，測試過程和測試結果一目了然；
7、設備集成多個usb接口。數據和通訊傳輸滿足多種要求；
8、空氣光路的內部環境得到顯著優化，大氣環境一樣可以直接測試；
9、一鍵測試，操作簡單智能，測試過程使用時間更短，結果更準確。
應用方向及領域：
1、各種薄膜、離型膜、淋膜!I等硅油涂布量的測定；
2、各種薄膜生產過程中Si、AI元素等比例量的測定；
3、電子產品S硫化物的殘留余量的測定；
4、電子產品保護膜硅油殘余量的測定。
尺寸 : | 467×370×336(mm) | 重量 : | 40kg |
適用范圍 : | 薄膜、硅油涂布 | 樣品腔尺寸 : | 310×248×124(mm) |
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