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全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus圖片
本圖片來自麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司提供的全自動比表面與孔隙度分析儀 TriStar II Plus，型號為TriStarIIPlus3030的Micromeritics比表面積測定儀，產(chǎn)地為美國，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的全自動比表面積分析儀、BET物理吸附比表面儀等產(chǎn)品。麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司是中國粉體網(wǎng)的金牌會員，合作關(guān)系長達15年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司
金牌會員15年
營業(yè)執(zhí)照已認證
品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
廠商榮譽：
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核心參數(shù)
誤差率：
0.0001分辨率：
/重現(xiàn)性：
優(yōu)于1%儀器原理：
靜態(tài)容量法分散方式：
/測量時間：
約40分鐘測量范圍：
比表面積不低于0.01 m2/g
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