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面議型號
飛行時間二次離子質譜儀 TOF-SIMS品牌
萬德思諾產地
天津樣本
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產品型號：
TOF-SIMS
產品介紹：
PHI nanoTOF3 能夠提供高質量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分析 ：在高質量分辨模式下，其空間分辨率優于500 nm；在高空間分辨模式下，其空間分辨模式優于50 nm。通過結合高強度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質量分析器，可以實現低噪聲、高靈敏度和高質量分辨率的測量。
產品特性：
1. 先進的離子束技術實現高空間分辨率
2. Triple Ion Focusing Time-of-Flight (TRIFT) —— 三重離子束聚焦質量分析器
3. 寬帶通能量、寬立體接受角度 —— 適用于各種形貌樣品分析
4. 全新的全自動樣品傳送系統
5. Queue Editor實現多樣品自動測試
6. 采用新開發的脈沖氬離子槍
7. 獲得**的自動荷電雙束中和技術
8. 標配離子槍新增FIB(Focused Ion Beam)功能
9. MS/MS平行成像同時采集MS1/MS2數據（**）
10. 遠程訪問實現對儀器的遠程控制
11. 兼容多種儀器的樣品傳送管
12. 進樣室手套箱
13. 加熱和冷卻樣品臺
14. 用于曲面分析的樣品臺（**）
15. 氬團簇離子槍
16. 銫離子槍和氬/氧離子槍
產品技術參數：
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