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多功能掃描X射線光電子能譜儀 XPS品牌
萬德思諾產地
天津樣本
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產品圖片:
產品型號:
XPS
產品介紹:
XPS 作為一種重要的表面分析方法,廣泛應用于固體材料表面的元素組分和化學態的研究,例如電池材料、催化劑、集成電路、半導體、金屬、聚合物、陶瓷和玻璃等,可滿足從研發到失效分析的廣泛分析需求。
VersaProbe4 采用了全新設計的高靈敏度分析器,靈敏度是上一代的2倍,具有更低的檢測限,能夠實現從微區 (<10 um) 到大面積(>1 mm) 的高靈敏度化學態分析。
獨特的微聚焦掃描X射線和SXI影像,通過類似SEM的SXI影像可以作為樣品導航,實現100%精準地定義微區分析位置。
*SXI (Scanning X-ray Image): 掃描X射線激發的二次電子影像
產品特性:
1. 全新設計的高靈敏度和低噪音能量分析器
2. 使用微區XPS分析技術進行準確的深度剖析
3. 無需參數調整即可滿足任何絕緣樣品微區分析的荷電中和需求
4. 遠程訪問實現對儀器的遠程控制
5. 自動化和遠程控制提供靈活的工作環境
6. 用于AES分析的掃描電子槍配件
7. 專用REELS電子槍
8. Ar團簇離子槍(Ar-GCIB)
9. UPS(紫外光電子能譜)LEIPS(低能量反光電子能譜)配件
10. 冷熱變溫樣品臺
11. 4觸點冷熱變溫樣品臺
12. 雙陽極X射線源
13. 可拓展的樣品進樣室
14. 樣品傳送管
15. 樣品預處理室
產品技術參數:
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