HORIBA科學儀器事業(yè)部
已認證
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SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。SZ-100的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據樣品的物理性質,動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發(fā)現zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇**條件將顆粒進行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身
寬檢測范圍,寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
測量范圍
顆粒直徑:0.3nm-8.0μm
測量精度
粒徑:按照ISO 13321/22412
可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒:100nm測量精度= +/- 2%
濃度
下限:0.1 mg/mL溶菌酶
上限:40 wt % (視樣品而定)
測量時間
粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設定)
樣品池
比色皿樣品池
取樣量
12μl ~ 4ml* (* 取樣量取決于樣品池容量。)
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測量范圍
測量時間
樣品池
取樣量
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測量范圍
樣品池
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電源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA 激光:二極管泵浦倍頻激光器 532 nm,10 mW I級 接口:USB 2.0,連接電腦與設備 外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分) 重量:25kg 控溫范圍:1-90℃,電極池和塑料池上限為70℃ 工作環(huán)境:15-35℃,相對濕度≤85%,無結露 冷凝控制:可連接吹掃氣 |
SZ-100采用動態(tài)光散射技術測量粒徑。樣品顆粒在池中做布朗運動。光源照入樣品池,散射光被90° 或173°檢測器采集(如下圖所示)。系統(tǒng)根據樣品濃度和光強自動選擇**的散射角和樣品池位置。
請參見動態(tài)光散射具體介紹
散射光信號進入到一個多通道的相關器,生成自相關函數用以確定顆粒的多分散系數。然后用Stokes-Einstein方程式計算粒徑。可根據樣品量和測量目的自定義樣品池。
zeta電位測量可使用一次性塑料電極樣品池。系統(tǒng)先測量樣品的電導率,施加一個電場,然后用電泳光散射測量粒子運動。電荷的正負決定著粒子的移動方向,而移動方向和移動速度決定了電荷的數量級(zeta電位)。zeta電位的結果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性。
請參見Zeta 電位技術具體介紹
SZ-100通過對不同濃度樣品進行靜態(tài)光散射測量計算出其**分子量值。通過德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數。
請參見分子量測量技術具體介紹
所有這些測量都通過菜單運行,軟件操作簡單。可以選擇合適的樣品進行導航程序設定。初學者可以選擇默認參數以得到好且高重現性的數據。對于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級選項中進行追加設置。
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