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HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列

HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列
  • 品牌:HORIBA
  • 產地:日本
  • 關注度:12267
  • 型號:SZ-100系列
  • 報價:面議
  • 信息完整度:
核心參數
  • 儀器原理:其他
  • 測量時間:2分鐘
  • 測量范圍:0.3nm-8.0μm
產品介紹

SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。SZ-100的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。

顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據樣品的物理性質,動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發(fā)現zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇**條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2

特征

  • 將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

  • 寬檢測范圍,寬濃度范圍

  • 雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

  • 多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

  • 用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

  • 自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

測量范圍

  • 顆粒直徑:0.3nm-8.0μm


測量精度

  • 粒徑:按照ISO 13321/22412

    • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒:100nm測量精度= +/- 2%

濃度

  • 下限:0.1 mg/mL溶菌酶

  • 上限:40 wt % (視樣品而定)

測量時間

  • 粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設定)

樣品池

  •  比色皿樣品池

取樣量

    • 12μl ~ 4ml* (* 取樣量取決于樣品池容量。)


Zeta電位:激光多普勒法

測量范圍

  • -200 – +200mV


測量時間

    • 一般需大約2分鐘

樣品池

  •  專用一次性樣品池

取樣量

    • ~100μl,一次性樣品池

分子量:靜態(tài)光散射德拜曲線法

測量范圍

  •  Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

樣品池

  •  比色皿樣品池

物理參數

電源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

激光:二極管泵浦倍頻激光器 532 nm,10 mW I級

接口:USB 2.0,連接電腦與設備

外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分)

重量:25kg

控溫范圍:1-90℃,電極池和塑料池上限為70℃

工作環(huán)境:15-35℃,相對濕度≤85%,無結露

冷凝控制:可連接吹掃氣

測量技術

SZ-100采用動態(tài)光散射技術測量粒徑。樣品顆粒在池中做布朗運動。光源照入樣品池,散射光被90° 或173°檢測器采集(如下圖所示)。系統(tǒng)根據樣品濃度和光強自動選擇**的散射角和樣品池位置。

請參見動態(tài)光散射具體介紹

散射光信號進入到一個多通道的相關器,生成自相關函數用以確定顆粒的多分散系數。然后用Stokes-Einstein方程式計算粒徑。可根據樣品量和測量目的自定義樣品池。

zeta電位測量可使用一次性塑料電極樣品池。系統(tǒng)先測量樣品的電導率,施加一個電場,然后用電泳光散射測量粒子運動。電荷的正負決定著粒子的移動方向,而移動方向和移動速度決定了電荷的數量級(zeta電位)。zeta電位的結果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性。

請參見Zeta 電位技術具體介紹

SZ-100通過對不同濃度樣品進行靜態(tài)光散射測量計算出其**分子量值。通過德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數。

請參見分子量測量技術具體介紹

所有這些測量都通過菜單運行,軟件操作簡單。可以選擇合適的樣品進行導航程序設定。初學者可以選擇默認參數以得到好且高重現性的數據。對于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級選項中進行追加設置。


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  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的工作原理介紹?
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自從1953年成立以來,堀場制作所已經成長為一個主要的分析檢測儀器和設備制造商,并且以其高精尖的產品成功地將市場拓展到了全球各個國家和地區(qū)。堀場的產品幾乎應用于所有的工業(yè)領域企業(yè)中的產品研發(fā)和質量控制,包括汽車、半導體、新材料、能源、冶金、食品加工以及科學研究等領域。堀場的發(fā)動機排放分析儀一直在促進著世界范圍內的汽車廠商對低排放高燃燒效率發(fā)動機的開發(fā);公司的大氣污染監(jiān)測儀和酸雨檢測設備在調查引起全世界關注的環(huán)境問題的原因方面起著極其重要的作用。堀場以為環(huán)境保護做貢獻為

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