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【邀請函】—顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術上海研討會

【邀請函】—顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術上海研討會
美國麥克儀器  2019-07-29  |  閱讀:1363

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材料表征領域的領導者Micromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜(P3)的分析與表征技術研討會》,分享國際領先的材料表征技術及實際應用,為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠摯邀請您出席本次研討會!

時間:2019年9月19日全天

地點:上海浦東(待定)

費用:免費

內容:

顆粒、粉體、膜的特性與綜述;

顆粒粒度分析:電阻法,X沉降法與亞篩分法

顆粒形態分析:動態圖像法

顆粒粉體分析的樣品制備:取樣,縮樣與分散

孔徑分析:氣液與液液孔徑分析方法

粉體流動性分析

咨詢電話:021-51085884-807


研討會主要主講人:

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