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          2011年7月19日-7月25日，麥克顆粒表征與技術系列專題研討會分別在中山大學、武漢理工大學、南京大學、浙江大學隆重召開。此次系列研討會吸引眾多學校以及研究所教授約200位專家學者參與了此次大會.

 

 
     研討會主題為物理吸附與化學吸附的理論與實踐，麥克儀器資深專家Jeff Kenvin博士與Jacek Jagiello博士，報告了物理吸附與化學吸附基本理論，并與實踐經驗相結合，引起與會專家學者和業內同仁們熱烈的反響和討論。

 

        此次研討會為顆粒表征與技術工作者提供了一次寶貴的學習、交流平臺，取得了良好的效果，與會代表紛紛表示這次研討會對他們的工作幫助很大，希望以后能夠繼續參加類似的活動。