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石灰石: 快速精準地分析CaO、MgO、Fe?O?等主要成分

石灰石: 快速精準地分析CaO、MgO、Fe?O?等主要成分
麥奇克/Microtrac  2020-04-15  |  閱讀:2265

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簡介

       石灰石是最重要的工業商品之一,因為它在建筑材料、鋼鐵生產、制藥和食品等領域有著廣泛的應用。與工業礦產的其他步驟一樣,必須對生產過程進行持續的監控,以確保產品質量的一致性。特別受歡迎的是高純度石灰石,含有高含量的氧化鈣和低濃度的雜質,如Fe?O?。同時MgO也是石灰巖重要的天然成分,需要檢測。本報告表現了S2 PUMA用于石灰石測量的分析性能。


       S2 PUMA: 快速簡化生產控制。 S2 PUMA是高性能的臺式能量色散x射線熒光(EDXRF)光譜儀,具有廣泛的應用范圍。因為它的XY軸自動進樣器可以對大批量的過程樣品進行無人值守的分析,因此非常適合石灰石樣品的過程控制。其HighSense?光路和可選的輕元素(LE)配置,確保高通量的同時還保證了最佳的精確度和準確度,即使是對Mg這樣的輕元素。


       儀器可選配符合人體工程學的TouchControl?觸摸式操作界面,可在孤島模式下獨立進行常規操作,不需要任何PC外設,完全適合工業環境。專門設計的儀器保護系統SampleCare?和強大的用戶控制軟件 SPECTRA.ELEMENTS,堅固的設計保證了儀器能夠長時間運行。


校準數據


       此應用報告中,采用S2 PUMA20位XY軸自動進樣器,配備Ag靶LE探測器,選取8個石灰石標準品進行工作曲線校準。稱取9 g研磨好的樣品粉末和1 g的粘合劑石蠟,在150kN的壓力下壓片30秒,制備成40 mm直徑的壓片樣品。測量時間為100秒,并在真空條件下進行,以達到最佳的輕元素檢測,無需氦氣沖洗以降低運行成本。峰值和背景位置分別由固定位置、積分和峰值高度或低包絡線定義。用于校準的參考樣品元素的量程和標準偏差見表 1。


表 1:校準數據

表 1:校準數據.png


       Mg的標準曲線(見圖1) 顯示了S2 PUMA出色的分析能力,尤其對于輕元素有著優異的線性相關 (R2=0.99953) ,3σ的標準差為0.1620%,濃度范圍為17.9%以內。


圖1: Mg的校準曲線.jpg

圖1: Mg的校準曲線


分析精密度


       為了驗證S2 PUMA卓越的分析穩定性,每17 min重復測試樣品10次。表2列出了測試條件。每次分析后,樣品從樣品倉中自動取出。本次在S2 PUMA上的重復實驗分析數據,結果和相對標準偏差見表 3。



表 2: 測試條件

表 2: 測試條件.png

表 3: 石灰石主要成分的測試精度 (測試時間為 100 s)

表 3: 石灰石主要成分的測試精度 (測試時間為 100 s).jpg


測試準確性

       S2 PUMA 的準確性可以從以下范例中表現 出來。根據上述校準方法,分析結果及參考值如表 4 所示。表中的數據顯示出石灰巖的測試結果與參考值具有高度的一致性。特別指出的是,對于像 Ca,Fe 這樣的重要元素,結果匹配的非常好,甚至于對于 Mg 這樣的輕元素,與參考值也非常接近。

表4: 標準物質的準確度測試 (測試時間為 100 s)

表4: 標準物質的準確度測試 (測試時間為 100 s).png


總結


       基于 HighSense 光路和 LE 配置,S2 PUMA 提供了優異的輕元素分析性能,在最短的測量時間內獲得最佳結果。集成了真空模式,與氦氣沖洗模式相比,運行成本更低。此外,可選配的觸屏控制(TouchControl) 的簡單操作,使得 S2 PUMA 成為工業環境中完美的質量控制搭檔。


X射線熒光光譜儀S2 PUMA


       布魯克是全球X射線熒光光譜分析儀器及軟件的主要供應商之一。分析儀器主要應用于科學的研究和發展、工業過程控制以及半導體材料的物性測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案,用以分析表征廣泛的產品,例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。


·通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度

·市場ling先的輕元素性能

·確保X射線安全

·完全的數據可追溯性

·符合法規

·無需人為干預的批量分析

·全球在線支持

·高度靈活的分析工具,適用于各種應用場合


X射線熒光光譜儀S2 PUMA.jpg

 



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