大昌華嘉科學(xué)儀器部
已認(rèn)證
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當(dāng)需要表征表面的潤濕性和附著性時,表面的化學(xué)性質(zhì)和形貌性質(zhì)在許多不同的應(yīng)用和工藝中都是重要的參數(shù)。潤濕性可以通過測量基材與給定液體間的接觸角來研究。楊氏方程便描述了固、液、氣三相間的平衡:
其中γsv、γsl、γlv為界面張力,θγ為楊氏接觸角。楊氏方程假定材料表面化學(xué)均一,形貌光滑。然而在真實的表面上述假定通常是不存在的,在真實的表面上通常并不是一個平衡狀態(tài)下的接觸角值,而是在前進角和后退角之間顯示一個接觸角范圍。
在理想表面上使用楊氏方程,測量的接觸角為楊氏接觸角(見上面圖片)。在真實的表面上,實際接觸角是液體-流體界面的切線與實際固體局部表面之間的夾角(見下面圖片)。然而,測量的接觸角是在宏觀上看到的,液體-流體界面的切線和代表表觀固體表面的線之間的夾角。實際接觸角值和表面接觸角值會有很大的差異。在理論上計算固體表面自由能時,應(yīng)采用實際接觸角。
Wenzel方程描述了表面粗糙度與浸潤性之間的關(guān)系
粗糙度和潤濕性的關(guān)系是1936年Wenzel提出的,增加表面粗糙度可提高表現(xiàn)化學(xué)性質(zhì)引起的潤濕性。例如,表面在化學(xué)上是疏水的,當(dāng)增加表面粗糙度時,將變得更疏水。Wenzel方程的具體表述如下:
θm為測量所得接觸角,θγ為楊氏接觸角,r為粗糙度比率。粗糙度比率的定義為實際和投影實體表面積的比值(光滑表面r=1,粗糙表面r>1)。需要注意的是,Wenzel方程是基于液體完全穿透粗糙表面的假設(shè)。Wenzel是一種近似值,對于粗糙表面來講液滴越大測試結(jié)果越接近真實值。由此可知,如果液滴比粗糙度尺度大兩到三個數(shù)量級,則適用Wenzel方程。
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