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裂變徑跡儀
裂變徑跡是個(gè)很復(fù)雜的過程,裂變徑跡計(jì)數(shù)只是其中一個(gè)部分。所有分析所需的其他任務(wù),可能非常耗時(shí),目前Autoscan系統(tǒng)自動(dòng)完成的是V. 3版。這個(gè)系統(tǒng)是由幾個(gè)世界上*有經(jīng)驗(yàn)的分析者和此領(lǐng)域帶頭作用的科學(xué)家歷經(jīng)15年發(fā)展而來的;他們開發(fā)的很多基礎(chǔ)手段至今仍被大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室所使用。因此,此套系統(tǒng)在貼合用戶的要求方面具有其他無法相比的優(yōu)點(diǎn)。Autoscan的TrackScan3系統(tǒng),由裂變徑跡分析者為了裂變徑跡分析而開發(fā),且是當(dāng)今市場上僅有的具有全面的自動(dòng)裂變徑跡成像及分析的系統(tǒng)。
軟件部分培訓(xùn)模塊(新)
一個(gè)新特點(diǎn)是培訓(xùn)模塊,在裂變徑跡分析方面,它能用新手的分析結(jié)果覆蓋“老師的”。能夠自動(dòng)清晰的顯示修改的地方及點(diǎn)評。系統(tǒng)極大地促進(jìn)了新分析師的培訓(xùn)。
長度自動(dòng)測量(新)
v.3版本的主要進(jìn)展是包含了軌跡長度測量的新工具。**次使3D半軌道長度測量成為可能。還配備了約束全徑跡自動(dòng)測量工具。這些工具借助于一個(gè)3D的橫截面視窗,使一個(gè)垂直薄片在通過圖像層積時(shí)能夠被檢測到。
直動(dòng)劃痕檢測(新)
在一些風(fēng)化的磷灰石硬粒上,被風(fēng)化目拋光的劃痕會(huì)對自動(dòng)計(jì)數(shù)產(chǎn)生影響?,F(xiàn)在,有拋光的劃痕特征的痕跡可被自動(dòng)探測并在檢測后被自動(dòng)刪除掉.
墨爾本大學(xué)熱年代學(xué)小組與Autoscan System Pty Ltd愉快的宣布,對他們基于數(shù)碼成像的裂變徑跡工作室套件升級到了v.3版本,包括顯微鏡控制及圖像采集系統(tǒng)TrackWorks 3和自動(dòng)的計(jì)算機(jī)輔助的裂變徑跡及分析系統(tǒng)FastTracks 3.V.3版主要是對核心軟件系統(tǒng)進(jìn)行了升級,除了套件V.2版本提供的擴(kuò)展之外,包括很多改進(jìn)及新添的特色,以及幾個(gè)新的高級的擴(kuò)展模塊。v.3版本在硬件能力上也有所提升,尤其是集成了新一代快速高分辨率的數(shù)碼顯微相機(jī)及顯著提高系統(tǒng)。
版本2的特點(diǎn)
徑跡工作套件的v.3版本涵蓋了以前v.2版本的所有特點(diǎn)。包括:
*集成的顯微鏡控制和使用在現(xiàn)代電動(dòng)顯微鏡上的數(shù)碼圖像捕捉系統(tǒng)
*一套綜合性的裂變徑跡分析工具
*裂變徑跡自動(dòng)計(jì)數(shù)帶有手動(dòng)修正結(jié)果的工具
*用于限定全徑跡的手動(dòng)軌跡長度測量工具4 磷灰石晶粒C軸方向的自動(dòng)測定
* Dpar和Dper參數(shù)的自動(dòng)測定
*玻片坐標(biāo)標(biāo)記的自動(dòng)定位和輸入
*為其他電動(dòng)平臺(tái)以各種不同格式輸出晶粒坐標(biāo)
* Mac 和PC系統(tǒng)的跨平臺(tái)性能
*多功能玻片夾一次可處理多達(dá)3個(gè)玻片該系統(tǒng)使用現(xiàn)代電動(dòng)數(shù)碼顯微鏡,為研究磷灰石和錯(cuò)石,提供了由計(jì)算機(jī)輔助進(jìn)行的**個(gè)全面運(yùn)行的綜合的裂變徑跡自動(dòng)分析系統(tǒng)
Version 3版本的核心特點(diǎn)
Version3版本對用戶界面和性能進(jìn)行了許多改進(jìn),使新系統(tǒng)易于使用。具體的新功能包括:
*主窗口可變焦,拉近查看使軌跡特點(diǎn)測量更精確些
*40幀/秒全分辨率的快速相機(jī)集成,提升了顯微鏡控制及圖像捕捉的性能。
*TrackWorks的應(yīng)用,改進(jìn)并加速了自動(dòng)對焦,自動(dòng)的玻片協(xié)調(diào)以及晶粒的自動(dòng)探測
*附加的顯微鏡功能的軟件控制,包括兩段式冷卻系統(tǒng)和電動(dòng)濾光輪
*大面積采集煤粒膠結(jié)片嵌圖(馬賽克圖像)>在煤粒照明不足的條件下,高動(dòng)態(tài)范圍選項(xiàng)可改善圖像>改進(jìn)了多玻片的處理能力,每次可自動(dòng)進(jìn)行3至8張玻片的數(shù)碼成像
*保存灰區(qū)和LZW壓縮的TIFF圖像,以減少文件尺寸及提高性能>背景圖像誠法用以在顯微鏡下消除持續(xù)的照明問題
*當(dāng)使用外部探測法時(shí),可看到云母圖像上興趣點(diǎn)的可旋轉(zhuǎn)區(qū)域
*v.2版本中的“計(jì)數(shù)”和“長度”模式現(xiàn)已被整合
*新晶粒和夾雜物標(biāo)記功能
暫無數(shù)據(jù)!