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MEMS探針主要應用于集成電路電路的芯片的性能檢測。
1.MEMS探針具有可制作出復雜要求的外形的探針，并且具有高穩定性的接觸電阻與優異的機械和電氣特性，并且一次可快捷，準確，經濟地加工出幾千個品質穩定的探針，并且每個探針的各項性能穩定一致，能夠滿足嚴格的質量標準.
2.電沉積工藝可以根據探針的不同用途，制作出不同特性的半導體檢測探針，例如，某些芯片需要高導電性的探針，我們可以通過改變材質，改變表面材質特性來制作出高導電性的探針，也可以根據要求，制作出高彈性，高抗振動疲勞的探針，高接觸性以減小到*小的信號減，讓信號傳遞更完整。
3.樣品制作周期更短，成本更低，交貨更快捷
4.可根據需要制作復雜造型的探針，沒有加工工藝的影響。可以制作25,4有良好的一致性，形成的陣列平面度高。UM以內的超細探針，形成的探
精密電鑄模板
電鑄具有精度高，微孔小，間距密，孔壁光滑等優點，更好地滿足了芯片的日益發展對植球模板的提出的更加精密要求
主要應用于
芯片植微球鋼網
3D SMT鋼網
SMT電鑄鋼網
芯片凸塊模板
OLED MASK 蒸鍍掩膜
太陽能印銀模板
尺寸 | 精度 | **尺寸 | *小間距 | 厚度 | 硬度 |
客戶訂制 | +_0.15um | 300X300mm | 0.06mm | 0.02-0.10mm | HV520-HV680 |
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