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COW/COT AOI芯片缺陷檢測設備品牌
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北京樣本
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檢測缺陷類別Defect types
l 缺陷尺寸：0.5um or above
l 常規檢測：電極異常、外延層脫落、切割道異常、發光區異常、殘金、雙晶、外延異常
l 深度學習系統與神經網絡算法，可以對缺陷類別進行精準分類
l 支持用戶定義或協商定制缺陷類別，但增加缺陷類別可能會影響產能
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