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E1000 化合物半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備品牌
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E1000 化合物半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備
Eagle1000 化合物半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備可以檢測(cè)藍(lán)寶石，砷化鎵，鉭酸鋰，石英玻璃，磷化銦等襯底及外延片。可以檢測(cè)并區(qū)分顆粒（particle）、凹坑（pit）、凸起（bump）、劃傷（scratch）、污點(diǎn)（stain）、裂紋（crack）等缺陷，*小可檢測(cè)缺陷81nm；支持4@、6@、8@晶圓檢測(cè)，具有高產(chǎn)能、檢測(cè)準(zhǔn)確和檢出率高的優(yōu)點(diǎn)。
適應(yīng)晶圓尺寸Wafer Size
l Size: 4", 6", 8" compatible; 標(biāo)配4 cassettes; other size upon request
l Thickness: 350um~1500um（其它厚度需要測(cè)試）
暫無數(shù)據(jù)！
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