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F2000 集成電路前道晶圓缺陷檢測設備圖片
本圖片來自昂坤視覺（北京）科技有限公司提供的F2000 集成電路前道晶圓缺陷檢測設備，型號為F2000 集成電路前道晶圓缺陷檢測設備的昂坤視覺測量/計量儀器，產地為北京，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應高品質的圖形化晶圓缺陷檢測設備、E3200 GaN缺陷檢測設備等產品。昂坤視覺（北京）科技有限公司是中國粉體網的高級會員，合作關系長達1年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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