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納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān)，而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。
晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計(jì)算：
Dhkl：晶粒尺寸，垂直于晶面hkl方向
β:hkl晶面的半高寬（或展寬）
θ：hkl晶面的bragg角度
λ：入射X光的波長，一般Cu靶為1.54埃
K：常數(shù)（晶粒近似為球形，K=0.89；其他K=1）
實(shí)例納米TiO2晶粒尺寸14nm
暫無數(shù)據(jù)！
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